掃描測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述：Santec的掃頻測(cè)試系統(tǒng)旨在簡(jiǎn)化光子測(cè)試，提供完整的解決方案，其中高速分析，高分辨率和準(zhǔn)確性是關(guān)鍵。將Santec的可調(diào)諧激光器(TSL-770或TSL-570)與光功率計(jì)(MPM-210H)、偏振控制單元(PCU-110)和定制軟件相結(jié)合，完整的掃描測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)化了WDL和PDL測(cè)量，可用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：積分球及測(cè)量系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-12-17

聯(lián)系我們 在線咨詢

實(shí)時(shí)功率參考

精確的WDL / PDL特性測(cè)量

高功率重復(fù)性<±0.02 dB

高PDL重復(fù)性±0.01 dB

波長(zhǎng)分辨率高，精度高

多通道測(cè)量可用

方便設(shè)置測(cè)量參數(shù)

數(shù)據(jù)分析

概述：

Santec的掃頻測(cè)試系統(tǒng)旨在簡(jiǎn)化光子測(cè)試，提供完整的解決方案，其中高速分析，高分辨率和準(zhǔn)確性是關(guān)鍵。將Santec的可調(diào)諧激光器(TSL-770或TSL-570)與光功率計(jì)(MPM-210H)、偏振控制單元(PCU-110)和定制軟件相結(jié)合，完整的掃描測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)化了WDL和PDL測(cè)量，可用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。

采用實(shí)時(shí)參考，同時(shí)從可調(diào)諧激光器獲取輸出功率和通過(guò)DUT傳輸?shù)墓夤β?，系統(tǒng)使用Mueller矩陣方法提供高精度的WDL和PDL分析。過(guò)度采樣和重新縮放算法用于最大限度地提高測(cè)試吞吐量，同時(shí)保持測(cè)量完整性。

Santec MPM-210H功率計(jì)主機(jī)可以與4通道電流計(jì)模塊MPM-213一起使用。掃描測(cè)試系統(tǒng)與MPM-210H和MPM-213相結(jié)合，適用于使用收發(fā)器式光電二極管(ROSA/相干接收器等)或光通道監(jiān)視器測(cè)量光纖元件的性能。